Радиационно-индуцированные процессы в широкозонных нестехиометрических оксидных диэлектриках
БиблиографияРадиационно-индуцированные процессы в широкозонных нестехиометрических оксидных диэлектриках [Электронный ресурс] / Никифоров С.В., Кортов В.С. - М. : Техносфера, 2017. Режим доступа: http://proto.rosmedlib.ru/book/ISBN9785948364902.html
АвторыНикифоров С.В., Кортов В.С.
ИздательствоТехносфера
Год издания2017
ПрототипЭлектронное издание на основе: Радиационно-индуцированные процессы в широкозонных нестехиометрических оксидных диэлектриках Москва: ТЕХНОСФЕРА, 2017. - 272 с. - ISBN 978-5-94836-490-2.
АннотацияВ книге рассмотрены радиационно-индуцированные процессы, возникающие при взаимодействии ионизирующих излучений с веществом, положенные в основу дозиметрических измерений. Особое внимание уделено методам твердотельной дозиметрии на основе термостимулированной люминесценции. Описаны механизмы образования анионных дефектов в объемных и наноструктурных широкозонных оксидных диэлектриках, проведено сравнение их люминесцентных и дозиметрических свойств. Приведен обзор и анализ различных типов кинетических моделей термостимулированной люминесценции, в том числе основанных на конкурирующем влиянии глубоких ловушек. Описаны эффекты сенситизации люминесценции в широкозонных оксидах, обусловленные изменением заселенности глубоких центров. Представлены результаты, доказывающие решающую роль процессов температурно-зависимого захвата носителей заряда глубокими ловушками в формировании люминесцентных и дозиметрических свойств данного класса материалов. Приводятся сведения о дозиметрических характеристиках и применении термолюминесцентных детекторов ионизирующих излучений ТЛД-500К на основе анион-дефектного оксида алюминия. Книга адресована широкому кругу читателей - специалистам по физике конденсированного состояния, радиационной физике диэлектрических материалов, инженерам, работающим в области индивидуальной, медицинской и технологической дозиметрии и радиационного мониторинга. Она может быть также полезна аспирантам и студентам старших курсов.
Загружено 2018-12-30 03:37:58