только для медицинских специалистов

Раздел 8 / 11

Страница 7 / 10

7. Особенности тестирования электронных компонентов

Режим постраничного просмотра

/

На первую страницу

На предыдущую главу

На следующую главу

На последнюю страницу

Озвучивание недоступно

/

Внимание! Часть функций, например, копирование текста к себе в конспект, озвучивание и т.д. могут быть доступны только в режиме постраничного просмотра.

Режим постраничного просмотра

Для продолжения работы требуется вход / регистрация

На предыдущую главу

На следующую главу

Скачать приложение

Маркировка радиодеталей отечественных и зарубежных. Том 1

Оглавление

Предисловие

1. Резисторы +

2. Конденсаторы +

3. Катушки индуктивности +

4. Маркировка кварцевых резонаторов и пьезофильтров +

5. Маркировка полупроводниковых приборов +

6. Маркировка полупроводниковых SMD радиокомпонентов +

7. Особенности тестирования электронных компонентов -

7.1. Тестирование конденсаторов

7.2. Тестирование полупроводниковых диодов

7.3. Тестирование транзисторов

7.4. Тестирование однопереходных и программируемых однопереходных транзисторов

7.5. Тестирование динисторов, тиристоров, симисторов

7.6. Определение структуры и расположения выводов транзисторов, тип которых неизвестен

7.7. Тестирование полевых МОП-транзисторов

7.8. Тестирование светодиодов

7.9. Тестирование оптопар

7.10. Тестирование термисторов

7.11. Тестирование стабилитронов

7.12. Расположение выводов транзисторов

Приложение 1. Краткие справочные данные по зарубежным диодам

Приложение 2. Краткие справочные данные по зарубежным транзисторам

Приложение 3. Типы корпусов СВЧ транзисторов